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中科院杭州射频识别技术研发中心

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RFID综合测试平台

通过CNAS/DILAC认证的RFID综合测试平台

发布日期:2013-11-28    浏览:2179次

中科院杭州射频识别技术研发中心建设的RFID综合测试实验室于2011年11月在杭州正式建成投入使用。该测试实验室由天线测试平台和RFID标签与读卡器综合测试平台组成,可满足天线、RFID产品及硬件开发的各项测试需求。这也是华东地区规模最大,功能最齐全,首家通过CNAS/DILAC认证的RFID综合测试平台。目前,已正式对外开放测试服务。       

测试能力

天线增益;天线方向性;波束宽度;交叉极化鉴别;旁瓣幅度;天线效率;前后比;一维、二维和三维辐射方向图;任意极化方式的辐射方向图 

 

标签与读卡器综合测试平台

引进NI-VISN-100RFID/NFC综测仪,该系统支持的RFID测试协议栈有:ISO/IEC18046-3-2012ISO/IEC18047-6-2012

 

测试能力:

标签一致性测试:协议规定的物理层(时域,频域,调制域)和协议层测试项目。

标签性能测试:读范围、写范围、方向灵敏度、抗干扰能力,反向散射范围等标准中规定的八项性能指标。

读写器一致性测试:协议规定的物理层(时域,频域,调制域)和协议层测试项目;

读写器性能测试:接收灵敏度、输出功率、发射频谱,FHSS频谱等性能指标。

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